L’evento Oscilloscope Days 2025 di Rohde & Schwarz offre conoscenze tecniche specialistiche per affrontare le sfide quotidiane dei test

L’evento ritorna ad aprile 2025 con contenuti aggiornati per affrontare le sfide della digitalizzazione e dell’elettrificazione nei test elettronici.

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L'evento virtuale di due mezze giornate comprende sessioni teoriche e pratiche online, presentazioni orientate alle applicazioni e discussioni interattive con gli esperti di Rohde & Schwarz e dei partner dell'evento.

Rohde & Schwarz ospita nuovamente il suo popolare evento Oscilloscope Days, che si svolgerà in due mezze giornate dal 2 al 3 aprile 2025. L'evento si svolgerà online e si avvarrà ancora una volta dell'esperienza degli specialisti di oscilloscopi di Rohde & Schwarz, oltre che dei partner di lunga data di Würth Elektronik e PE Systems. L'evento live sarà trasmesso in streaming in inglese.

L'evento di quest'anno è incentrato sulle necessità dei progettisti di potenziare la funzionalità dei dispositivi e di ridurre al minimo il consumo di energia, il peso e le dimensioni, garantendo al tempo stesso un'interoperabilità continua. Gli esperti forniranno approfondimenti didattici sul modo in cui questi obiettivi possono essere raggiunti, utilizzando un oscilloscopio e le relative sonde e accessori accuratamente selezionate.

La prima giornata degli Oscilloscope Days 2025 si aprirà con una sessione introduttiva che illustrerà l'interrelazione necessaria tra le tecnologie dei semiconduttori per ottimizzare le prestazioni di un sistema di gestione dell'energia elettrica, garantendo al contempo la conformità del prodotto. Leonardo Montoya di Wolfspeed spiegherà la stretta correlazione tra i progressi della nuova microelettronica e i dispositivi a semiconduttore di potenza. Esaminerà inoltre le implicazioni più importanti per l'integrazione a livello di sistema e illustrerà un percorso ben definito per superare le sfide da affrontare.

La prima giornata proseguirà con una presentazione su come scegliere l'oscilloscopio e la sonda migliori per una particolare applicazione, compresa la larghezza di banda e la frequenza di campionamento necessarie, i sistemi di trigger digitali e le velocità di acquisizione. Rohde & Schwarz tratterà anche i fondamenti delle sonde, tra cui la comprensione delle caratteristiche delle diverse tipologie, le modalità di collegamento al dispositivo in prova (DUT) con i relativi effetti sul segnale e come interpretare i risultati.

I partecipanti potranno poi ascoltare gli specialisti di Würth Elektronik e Rohde & Schwarz su temi chiave, come la gestione delle perdite in corrente alternata e il superamento delle sfide nel collaudo di dispositivi con semiconduttori ad ampia banda proibita (wide bandgap), come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN). La sessione WBG si concentrerà su come scegliere la strumentazione adatta per affrontare le sfide del test, quali l’elevata velocità delle variazioni di corrente e le tensioni più elevate, circuiti di pilotaggio con gate isolati e misure di corrente a banda larga. La presentazione descriverà anche i modi migliori per isolare le apparecchiature di misura e per decidere quanto isolamento è necessario. Infine, verranno illustrati i vantaggi dell'uso di una sonda ottica isolata per le misure sul ramo superiore (high-side) dei circuiti a ponte e per le misure con shunt di corrente.

La seconda giornata degli Oscilloscope Days 2025 inizierà con un approfondimento sulla saturazione degli induttori di potenza e sull'utilizzo delle varie funzioni fornite dall'oscilloscopio MXO di Rohde & Schwarz, come la sua elevata larghezza di banda e la rapida frequenza di campionamento, le capacità per ottenere accurate misure di corrente e l'analisi delle forme d'onda. I relatori di Würth Elektronik e PE-Systems analizzeranno gli effetti delle diverse temperature e l'impatto della costruzione e del materiale del nucleo degli induttori. Proseguiranno spiegando come utilizzare i test a doppio impulso con un approccio basato su modelli per ottenere progetti robusti con cicli di sviluppo molto brevi, focalizzandosi sulle applicazioni dell’elettronica di potenza.

Più tardi, nel corso della mattinata, le dimostrazioni dal vivo si concentreranno sull'analisi dell'integrità dei segnali NRZ (Non-Return-to-Zero) e PAM (Pulse Amplitude Modulation) nei sistemi digitali ad alta velocità, illustrando alcune soluzioni di test avanzate per l'analisi dei segnali PAM e descrivendo le tecniche di equalizzazione ed embedding per ottimizzare la fedeltà del segnale.

La sessione finale affronterà in dettaglio il tema del debug delle interferenze elettromagnetiche (EMI) e le misure di pre-compliance, evidenziando come tali processi non debbano più essere necessariamente lunghi e costosi da eseguire. In una dimostrazione pratica, gli esperti di Rohde & Schwarz esamineranno gli strumenti e le tecniche tipiche che possono portare a una riduzione dei costi e a un miglioramento dell'efficienza, aiutando a identificare e risolvere rapidamente i problemi EMI. Verrà inoltre illustrato come effettuare una misura di pre-compliance delle emissioni condotte utilizzando un analizzatore di spettro e un oscilloscopio.

Philip Diegmann, Vice Presidente responsabile della linea di prodotti Oscilloscopi di Rohde & Schwarz, ha dichiarato: “Siamo lieti di lavorare a stretto contatto con i nostri partner per garantire lo svolgimento di eventi come gli Oscilloscope Days, in modo che le conoscenze più recenti possano essere condivise con la comunità dei progettisti, per contribuire a supportare le loro attività quotidiane”. Queste due giornate si concentreranno sui fondamenti per coloro che sono alle prime armi con la professione e sulle ultime tecniche e tecnologie per i tecnici più esperti che devono affrontare una gamma sempre più ampia di sfide di misura.”

Per ulteriori informazioni e per registrarsi all'evento Oscilloscope Days 2025, visitare la pagina

www.rohde-schwarz.com

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