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06
'20
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TEKTRONIX News
TEKTRONIX PRESENTA IL NUOVO SISTEMA S530 BASATO SU KTE7 PER TEST PARAMETRICI NELLA PRODUZIONE IN TECNOLOGIA WIDE BANDGAP
Tektronix, Inc., produttore leader mondiale di sistemi di test and measurement, presenta oggi il nuovo Sistema di test parametrici per la produzione denominato Keithley S530, basato sul software KTE 7 e ricco di numerose novità. La piattaforma rivolta al test in fase di fabbricazione di semiconduttori consente un aumento della capacità produttiva massimizzando il numero di wafer testabili per unità di tempo. La soluzione è rivolta a massimizzare le prestazioni contenendo i costi (CAPEX) degli investimenti in produzione, riducendo la cosiddetta cost of ownership che è un fattore critico in un mercato altamente competitivo come quello dei semiconduttori.
I nuovi dispositivi a semiconduttore basati su tecnologia wide bandgap (WBG) come il nitruro di gallio (GaN) e il carburo di silicio (SiC) offrono vantaggi incommensurabili in termini di velocità di commutazione, range di temperatura, efficienza di conversione energetica e molti altri benefici. Per soddisfare le necessità di test di questi prodotti, Keithley ha realizzato la nuova piattaforma S530 basata su KTE 7, una piattaforma che riduce drasticamente i tempi di setup del sistema e i tempi di test. La sua facile e flessibile configurabilità, nonché le alte prestazioni in termini di velocità sono fattori chiave in un settore dove i requisiti di test ora richiedono di supportare anche l’alta tensione, fino a 1100V, e secondo nuovi requisiti. Questa soluzione offre ai produttori di sistemi e dispositivi a semiconduttore un modo per essere altamente efficienti e competitivi in mercati chiave e in forte crescita come quello dell’automotive, non solo riducendo i tempi di test e di setup, ma riducendo in generale l’investimento economico.
“La produzione di dispositivi a semiconduttore analogici e mixed-signal sono in forte crescita per via delle richieste che provengono da applicazioni in espansione come il 5G, il settore dell’Automotive, l’IoT, il medicale, l’energetico green e altri mercati” afferma Chris Bohn, vice presidente e general manager presso Keithley/Tektronix. “Quello che presentiamo oggi è un aggiornamento radicale della nostra piattaforma che consentirà ai nostri clienti di arrivare sul mercato molto più rapidamente e con costi molto più contenuti, ma anche disponendo di flessibilità e di una grande adattabilità verso nuovi requisiti che dovessero arrivare nel corso del tempo”
Le innovazioni che riguardano il nuovo Sistema S530 sono molteplici, ma una estremamente importante è la facilità di migrazione/portabilità dal punto di vista del software di test , del riutilizzo delle probe card e di altri dispositivi già in possesso dei nostri clienti. Abbiamo infatti una soluzione che permette una migrazione facile e veloce, supportata da diversi test che provano altissima correlazione nelle misure, insieme ad un forte incremento della velocità di test. La versione S530-HV per l’alta tensione consente di portare fino a 1100V su ciascun pin e di aumentare il throughput del sistema fino al 50% se comparato con prodotti concorrenti per test di applicazioni WBG. I produttori di chip possono testare in un unico Sistema una vasta gamma di prodotti inclusi quelli per l’automotive secondo lo standard per la gestione della qualità IATF-16949.
La calibrazione del Sistema può essere fatta in house con tempistiche di fermo macchina estremamente ridotte attraverso il nostro personale di service distribuito in tutto il mondo e noto per l’alta qualità e l’esperienza.
La piattaforma software basata su KTE7 è il modo più semplice e veloce di migrare dalle piattaforme precedenti come i sistemi S400 e S600, preservando la correlazione dei risultati ma nel contempo aumentando il throughput fino al 25% in più rispetto ad un sistema S600.
Miglioramenti chiave e novità assolute
- Testina opzionale per il Sistema S530-HV volta ad eliminare ogni tempo di intervento dell’operatore per ri-cablare, modificare il setup o sostituire la probe card nel passaggio da test a bassa tensione (<200V) verso configurazioni di test su wafer ad alta tensione (>200V). La testina è inoltre compatibile con numerosi modelli di probe card da diversi vendor, e garantisce una rapida sostituibilità e una calibrazione to-the-pin come previsto dalla norma ISO-17025. I costi di migrazione sono quindi ridotti al minimo e l’investimeto è protetto e pronto a supportare nuovi requisiti in futuro come ad esempio lo standard automotive IATF-16949.
- Il Sistema S530-HV supporta il test fino a 1100V su ogni pin permettendo un throughput di test elevato fino al 50% più rapido rispetto alla concorrenza su applicazioni power e WBG. L’operatore può collegare qualsiasi strumento di test su qualunque pin secondo qualsiasi sequenza senza dover riconfigurare il sistema o il percorso del segnale.
- Il software KTE semplifica notevolmente e velocizza la migrazione da sistemi di produzione cosiddetti legacy come l’S600, con grande correlazione dei risultati di misura e con un incremento del throughput fino al 25%
- La protezione da sovra-tensioni e sovra-correnti è integrata per prevenire danni accidentali alla probe card, ai pin di contatto e soprattutto alla strumentazione, un fattore altamente critico nei test su dispositivi WBG.
- Durante la fase di calibrazione del Sistema, la nuova 5880-SRU System Reference Unit effettua una commutazione automatica su tutti i standard reference DC e AC eliminando ogni necessità di intervento manuale. L’automazione di questo processo altamente critico e dispendioso in termini di tempo comporta una riduzione notevole del downtime della macchina.
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