Hexagon lancia la macchina di misura ottica OPTIV S

Hexagon Manufacturing Intelligence ha annunciato il lancio della nuova generazione della macchina di misura a coordinate (CMM) ottica OPTIV S 4.4.3. Progettata per ispezionare componenti complessi e ad alto valore aggiunto nei settori dell'elettronica, dei dispositivi medicali, dell'automotive e della meccanica di precisione, la piattaforma riprogettata combina la metrologia ottica avanzata con tecnologie tattili e multisensore. L'aggiornamento hardware e l'introduzione progressiva di funzionalità software basate sull'intelligenza artificiale mirano ad accelerare i processi di controllo qualità, semplificare i flussi di lavoro e ridurre la dipendenza dalle calibrazioni manuali degli operatori.

Miglioramenti hardware e produttività
La nuova piattaforma OPTIV S è stata meccanicamente riprogettata per incrementare la dinamica della macchina di circa il 30 percento attraverso velocità e accelerazioni più elevate, portando a una riduzione dei tempi di ciclo di ispezione fino al 15 percento. La precisione tattile del sistema è stata migliorata a un valore di E0, MPEE = (1,6 + L/200) μm. Inoltre, la macchina integra un nuovo sensore ottico dotato di un campo visivo (FOV) più ampio, che consente di acquisire un maggior numero di caratteristiche geometriche del pezzo con un numero inferiore di immagini, mantenendo l'accuratezza richiesta negli ambienti produttivi più esigenti.

Ispezione assistita dall'intelligenza artificiale
Oltre all'aggiornamento meccanico, OPTIV S introduce una nuova generazione di strumenti software intelligenti all'interno dell'ambiente PC-DMIS. A partire dalla versione 2026.2, la funzione AI Edge Detection ottimizzerà la calibrazione tra telecamera e illuminazione per migliorare il rilevamento automatico dei bordi. Nel corso del 2027, Hexagon rilascerà Fast Auto-Focus, progettato per aumentare la velocità di messa a fuoco fino al 50 percento, e AI Illumination, che regolerà automaticamente i parametri di luce per minimizzare la programmazione per tentativi (trial-and-error). Queste innovazioni software e le tecnologie di rilevamento IA saranno rese disponibili tramite aggiornamento anche agli utenti della piattaforma esistente OPTIV M.

Contesto aggiuntivo: Sfide di illuminazione nella metrologia ottica
Questa sezione illustra specifiche tecniche e confronti competitivi non inclusi nell'annuncio originale del prodotto.

Nella metrologia ottica senza contatto—fondamentale per misurare componenti fragili o deformabili come gli stent medicali, le guarnizioni in elastomero o i microchip—la precisione dimensionale dipende interamente dall'acquisizione di un contrasto netto dei bordi. I riflessi generati da metalli lavorati a macchina, superfici satinate o plastiche trasparenti spesso ingannano i tradizionali algoritmi di visione. Storicamente, i metrologhi dovevano dedicare ore alla programmazione manuale per regolare luci ad anello o illuminazioni coassiali al fine di eliminare ombre e "falsi bordi". L'integrazione di reti neurali (AI Illumination e AI Edge Detection) risolve questo collo di bottiglia: il software analizza la finitura superficiale e calcola automaticamente l'intensità e il vettore di illuminazione ottimali. Questo riduce drasticamente i tempi di programmazione della CMM e garantisce che la stessa routine di ispezione produca risultati coerenti su lotti diversi, indipendentemente da lievi variazioni nella riflettività del pezzo o nell'illuminazione ambientale dello stabilimento.

A cura di un giornalista industriale, Lekshman Ramdas, con l'assistenza dell'IA.

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